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公开号
发明名称(中文)
发明名称(日文)
点击率
特开2002-071586
二维扫描X射线分析装置
二次元走査X線分析装置
11
特开2002-071587
X射线检查装置
X線検査装置
0
特开2002-071588
X射线异物检查装置
X線異物検査装置
11
特开2002-071589
X射线衍射计测装置
X線回折計測装置
10
特开2002-071591
能量分散型X射线检测系统
エネルギー分散型X線検出システム
13
特开2002-071592
二次离子质量分析方法
二次イオン質量分析方法
17
特开2002-071593
电刷中金属元素的定量分析方法
電刷子中の金属元素の定量分析方法
10
特开2002-071594
电子显微镜
電子顕微鏡
14
特开2002-071595
橡胶的交联度评价方法
ゴムの架橋度評価方法
28
特开2002-071596
电子自旋共振的计测方法和计测装置
電子スピン共鳴の計測方法および計測装置
30
特开2002-071597
稳定自由基化合物的浓度测定方法
安定フリーラジカル化合物の濃度測定方法
23
特开2002-071598
热电测定装置的光照射装置
熱電気測定装置の光照射装置
33
特开2002-071599
热电测定装置的样品组装体
熱電気測定装置の試料組立体
42
特开2002-071600
光照射式的热电测定装置的样品组装体
光照射式の熱電気測定装置の試料組立体
33
特开2002-071601
热电测定装置的样品加热装置
熱電気測定装置の試料加熱装置
29
特开2002-071602
差热分析装置
示差熱分析装置
33
特开2002-071603
热分析装置、热分析测定方法和气体流动单元
熱分析装置、熱分析測定方法及びガスフローユニット
45
特开2002-071605
非破坏检查方法和装置、数据判定装置
非破壊検査方法および装置、データ判定装置
51
特开2002-071606
非破坏检查装置及其控制装置
非破壊検査装置およびその制御装置
37
特开2002-071607
氧浓度测定方法和比电阻测定方法
酸素濃度測定方法、および比抵抗測定方法
44
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